УПРАВЛЕНИЕ БОЛЬШИМИ СИСТЕМАМИ
на главную написать письмо карта сайта


јвтор:  ћосин —. √.
Ќазвание:  ѕодход к выбору метода тестировани€ смешанных интегральных схем на основе стоимостной модели
¬ыпуск:  41
–убрика:  ”правление техническими системами и технологическими процессами
√од:  2013
Ѕиблиографи€:  ћосин —. √. ѕодход к выбору метода тестировани€ смешанных интегральных схем на основе стоимостной модели / ”правление большими системами. ¬ыпуск 41. ћ.: »ѕ” –јЌ, 2013. —.344-356.
 лючевые слова:  тестопригодное проектирование, интегральные схемы, стоимостна€ модель
 лючевые слова (англ.):  design-for-testability, integrated circuits, cost model.
јннотаци€:  ¬ работе предложена модель оценки стоимости тестировани€ смешанных »—, учитывающа€ особенности используемой интегральной технологии и производственной линии. ѕредставлен подход к выбору способа тестировани€ смешанных »—, оптимального с точки зрени€ минимума стоимостных затрат на тестирование. ќпределены услови€ прин€ти€ решени€ по использованию методов внешнего или внутрисхемного тестировани€, которые могут быть сформированы на основе предложенной модели уже на ранних стади€х процесса проектировани€ »—. ѕриведены результаты экспериментальных исследований.
јннотаци€ (англ.):  The model has been proposed of test cost estimation for mixed-signal integrated circuits (IC) taking into account features of integrated technology used and of fab production line. The approach of test technique selection to minimize test cost is suggested for mixed-signal IC. Decision rules are defined for both on-chip and off-chip test selection, which can be developed on the base of the proposed model already at early stages of IC design. Experimental results have been shown.

в формате PDF
ќбсудить статью в »нтернет-конференции по проблемам управлени€

ѕросмотров: 1972, загрузок: 773, за мес€ц: 8.

Ќазад

»ѕ” –јЌ © 2007. ¬се права защищены